Описание
Серия инспекционных микроскопов Eclipse L200N Series с оптической системой CFI60 с моторизованной сменой объективов идеальна для анализа, осмотра и проверки полупроводниковых пластин, фотомасок, сеток и других образцов размером 200мм.
Запрос технических характеристик и ТЗ